El microscopio electrónico de sobremesa LVEM 5 es una herramienta de microscopía que combina imágenes de alta resolución con poder de resolución a nivel nanométrico en el único diseño de TEM de sobremesa del mundo.
Es una herramienta de imagen extraordinaria, equipada con modos TEM, SEM y STEM, diseñada para obtener resultados de imágenes detallados con un contraste inigualable en muestras biológicas y materiales blandos. El LVEM 5 es una ventaja para cualquier laboratorio que trabaje, investigue o estudie nanomateriales.
El LVEM 5 es un equipo de fácil manejo y muy bajo coste de mantenimiento.
Modo TEM
Los microscopios LVEM 5 pueden equiparse con una cámara CCD o una cámara CMOS científica para la microscopía electrónica de transmisión de nanopartículas y secciones muy delgadas.
Muestras LVEM y Aplicaciones para TEM
Las muestras típicas para análisis TEM se dividen en dos categorías básicas:
secciones ultrafinas de materiales en bloque o partículas o filamentos a escala nano depositados sobre una película soporte.
Modo STEM
La microscopía electrónica de transmisión por barrido (STEM) se hace posible con un detector STEM adicional. Este modo permite obtener imágenes de transmisión de materiales más densos.
Modo ED
La difracción de electrones proporciona caracterización estructural de materiales cristalinos.
1. Especificaciones
Voltaje nominal de aceleración: 5 kV
Fuente de haz de electrones: Fuente de emisión por campo Schottky
Tamaño de la muestra: Rejillas TEM estándar Ø 3,05 mm
Movimiento de la muestra: x, y: ± 1 mm | z: ± 0,3 mm
Soporte de inclinación: ± 22°
Tiempo de intercambio de la muestra: Aproximadamente 3 min
2. Modos
MODELO BÁSICO DE TEM
Poder de resolución: 2,0 nm
Magnificación total: desde x2.200 hasta x230.000
BOOST DE TEM
Poder de resolución: 1,2 nm
Magnificación total: desde x1.400 hasta x700.000
STEM
Poder de resolución: 2,0 nm
Magnificación máxima: x250.00
Campo de visión máximo: 25 × 25 μm
SEM (DETECTOR BSE)
Poder de resolución: 4,0 nm
Magnificación máxima: x100.000
Campo de visión máximo: 200 × 200 μm
3. Dimensiones
UNIDAD DEL MICROSCOPIO
Peso: 25 kg
Dimensiones (an × pr × al): 296 × 440 × 690 mm
ESTACIÓN DE BOMBA DE BLOQUEO DE AIRE
Peso: 17 kg
Dimensiones (an × pr × al): 300 × 300 × 355 mm
UNIDAD DE ELECTRÓNICA
Peso: 19 kg
Dimensiones (an × pr × al): 470 × 270 × 290 mm
El LVEM 25E es el microscopio electrónico de transmisión compacto todo en uno. Es versátil, ya que combina cinco modos de imagen y análisis en un solo instrumento autónomo. Este diseño avanzado, combinado con una impresionante capacidad de resolución, hace del LVEM 25E un socio excepcional para todos tus requisitos de imagen a escala nanométrica.
Su rápido intercambio de muestras y la automatización mejorada lo convierten en una herramienta práctica y fácil de usar para aplicaciones rutinarias de imagen. El LVEM 25E ofrece imágenes de alto contraste y detalles a partir de muestras preparadas con protocolos estándar y ofrece la opción de lograr el mismo nivel de detalle, en muchos casos sin tinción.
El software avanzado ajusta automáticamente la alineación de la columna y las posiciones de la apertura, agilizando la experiencia del usuario.
Características de los modos de imagen
Equipado con los modos TEM, STEM, SEM, EDS y ED, el LVEM 25E ofrece a los usuarios una opción única para obtener múltiples resultados de datos a partir de una sola muestra. Puedes cambiar fácilmente entre los modos de imagen utilizando el software intuitivo del LVEM.
Modo TEM
La imagen en el modo TEM de 25 kV ofrece una alta velocidad de fotogramas, imágenes en vivo, proporcionando mediciones bien contrastadas del tamaño, forma y estructura.
Modo STEM
La obtención de imágenes a voltajes de aceleración más bajos con los modos STEM de 10 kV y 15 kV proporciona niveles de contraste aún más altos y permite analizar muestras más gruesas.
Modo de Campo Oscuro
Tanto el modo de campo oscuro en TEM como en STEM facilitan la obtención de imágenes de muestras sobre fondos complicados, planos cristalinos, dislocaciones, ADN, etc.
Modo SEM
El modo SEM (BSE) ofrece análisis de superficies de muestras para comprender la forma y textura de la superficie.
Modo ED
La difracción de electrones permite la caracterización estructural de materiales cristalinos.
Modo EDS
El modo EDS permite analizar la composición química de las muestras y crear mapas de composición elemental que se pueden superponer con los datos de STEM y SEM.
1. Especificaciones
Voltaje nominal de aceleración: 5 kV
Fuente de haz de electrones: Fuente de emisión por campo Schottky
Tamaño de la muestra: Rejillas TEM estándar Ø 3,05 mm
Movimiento de la muestra: x, y: ± 1 mm | z: ± 0,3 mm
Soporte de inclinación: ± 22°
Tiempo de intercambio de la muestra: Aproximadamente 3 min
2. Modos
MODELO BÁSICO DE TEM
Poder de resolución: 2,0 nm
Magnificación total: desde x2.200 hasta x230.000
BOOST DE TEM
Poder de resolución: 1,2 nm
Magnificación total: desde x1.400 hasta x700.000
STEM
Poder de resolución: 2,0 nm
Magnificación máxima: x250.00
Campo de visión máximo: 25 × 25 μm
SEM (DETECTOR BSE)
Poder de resolución: 4,0 nm
Magnificación máxima: x100.000
Campo de visión máximo: 200 × 200 μm
