Descubra un SEM extraordinario.
El EM-40 representa la última incorporación de COXEM a su creciente familia de SEM de sobremesa. El EM-40 cuenta con tecnología de procesamiento de señales de quinta generación ultra-rápida y proporciona imágenes de alta calidad a velocidades de hasta 13 fps. Cuatro modos de imagen (Rápido, Lento, UltraRápido y Foto) permiten al usuario elegir la calidad de imagen y la velocidad que mejor se adapte a su aplicación. Otra de las novedades de este modelo es la posibilidad de autoalineamiento, haciendo de este proceso un paso sencillo.
Fuente de haz de electrones
Filamento de tungsteno (W)
Resolución espacial
< 5 nm
Magnificación
desde x13 a x250.000
(Digital Zoom x1~x12)
Voltaje de aceleración
1 ~ 30 kV
Mesa de muestras
X: 40 mm, Y: 40 mm, Z: 40 mm,
Motorizado en 3 ejes
Detector
SE, BSE*
Modo de vacío
HV, LV*, VP*
Sistema de vacío
Bomba turbo (80L) + Bomba rotativa (100L)
Dimensiones (An × L × Al)
315 (An) × 560 (L) × 580 (Al) mm
Peso
81.5 kg
Características
Panorama 2.0
Enfoque automático
Brillo y contraste automáticos en 1 segundo
Inicio automático
Mezcla de señales
Pantalla triple y guardar
Perfilado de línea
Filtrado de imagen
Herramienta de anotaciones
Cámara de Muestras
Formato de salida de datos
JPEG, TIFF, BMP
Opciones (*)
BSE, EDS de 30 y 65 mm2, EBSD, STEM
NaviCam, Coolstage
LV (20Pa), VP (10 / 20 / 30Pa)
NanofiberScanner
Bomba de diafragma
El EM-30N es nuestro modelo más clásico de SEM de sobremesa. Con nuestra tecnología de procesamiento digital de señales (DSP) de quinta generación, ofrece imágenes nítidas y de bajo ruido incluso a alta magnificación. El Modo Panorama permite una capacidad de escaneo de gran área, mientras que el modo LV (Vacío Bajo) te da la capacidad de capturar imágenes de alta calidad de muestras no conductoras sin necesidad de recubrimiento. El EM-30N también es el primer SEM de sobremesa del mundo que se integra de forma fluida con EBSD compacto, lo que eleva aún más su versatilidad y rendimiento.
Fuente de haz de electrones
Filamento de tungsteno (W)
Resolución espacial
< 5 nm
Magnificación fotográfica
Desde x15 a x150.000
Magnificación en pantalla
Desde x15 a x150.000
Voltaje de aceleración
1 ~ 30 kV
Mesa de muestras
X: 35 mm, Y: 35 mm,
Inclinación T: 0 ~ 45°. Motorizado en 3 ejes
Detector
SE, BSE*
Modo de vacío
HV, LV*
Sistema de vacío
Bomba turbo (80L) + Bomba rotativa (100L)
Dimensiones (An × L × Al)
400 (An) × 630 (L) × 600 (Al) mm
Peso
85 kg
Características
Panorama v1
Enfoque automático
Brillo y contraste automáticos
Inicio automático
Mezcla de señales
Pantalla dual y guardar
Perfil de línea
Filtrado de imagen
Herramienta de anotaciones
Cámara de Muestras
Formato de salida de datos
JPEG, TIFF, BMP
Opciones*
BSE, EDS, EBSD, STEM
NaviCam, Coolstage
LV (20Pa), VP (10 / 20 / 30Pa)
Panorama v2, NanofiberScanner
Bomba de diafragma
El CX-200K es un Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de consola, estándar pero potente, diseñado para satisfacer una amplia gama de necesidades de investigación y control de calidad. Con la nueva e intuitiva interfaz gráfica de usuario NanoStation5, el CX-200K hace que la operación sea simple y eficiente. Con una magnificación máxima de x500.000, ofrece imágenes de alta resolución excepcionales. Experimenta una captura de imágenes más rápida y optimizada y elige entre varias opciones para personalizar el CX-200K según tus requisitos específicos. El CX-200K combina tecnología avanzada con facilidad de uso, estableciendo un nuevo estándar para la microscopía básica pero potente.
Fuente de haz de electrones
Filamento de tungsteno (W)
Resolución espacial
<3nm
Aumento
Desde x9x a x500.000 (Digital Zoom x1~x12)
Voltaje de aceleración
De 1 a 30kV
Etapa de la muestra
X: 60mm, Y: 60mm, Z: 60mm; R: 360, T: 20 ~ 90º
Detector
SE, BSE
Modo de vacío
HV, LV(20Pa) *, VP(10, 20, 30Pa) *
Sistema de vacío
Bomba turbo (300L) + Bomba rotativa (100L)
Dimensiones (An × L × Al)
640(An) × 682(L) × 1,432(Al)mm, 200kg
Características
Panorama v2
Enfoque automático
Brillo y contraste automáticos
Inicio automático
Mezcla de señales
Pantalla triple y guardado
Perfil de línea
Filtrado de imagen
Herramienta de anotación
Cámara de Muestras
Formato de salida de datos
JPG, TIFF, BMP
Opciones*
EDS (Oxford, Bruker)
EBSD, STEM
Plataforma refrigerada
LV(20Pa), VP(10 / 20 / 30Pa)
NanofiberScanner
Bomba de desplazamiento
Módulo de protección contra aire
El CX-300 es un Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de tamaño completo diseñado para el análisis de áreas y muestras grandes.
Con la intuitiva interfaz gráfica de usuario NanoStation5, ofrece una operación fácil y eficiente. Con una magnificación máxima de x500.000, proporciona imágenes de alta resolución y puede acomodar muestras más grandes.
La cámara expandida mejora su versatilidad, lo que lo hace ideal para una amplia gama de aplicaciones de investigación y control de calidad.
Combinando tecnología de vanguardia y un diseño fácil de usar, el CX-300 establece un nuevo estándar para la microscopía potente.
Fuente de haz de electrones
Filamento de tungsteno (W)
Resolución espacial
<3nm
Aumento
Desde x9 hasta x500.000
Voltaje de aceleración
De 1 a 30kV
Etapa de la muestra
X: 100mm, Y: 100mm, Z: 60mm; R: 360, T: 20 ~ 90º
Detector
SE, BSE
Modo de vacío
HV, LV(20Pa) *, VP(10, 20, 30Pa) *
Sistema de vacío
Bomba turbo (300L) + Bomba rotativa (100L)
Dimensiones (An × L × Al)
640(An) × 690(L) × 1,460(Al) mm, 210 kg
Características
Panorama v2
Enfoque automático
Brillo y contraste automáticos en 1 segundo
Inicio automático
Mezcla de señales
Pantalla triple y guardado
Perfil de línea
Filtrado de imagen
Herramienta de anotación
Cámara de Muestras
Formato de salida de datos
JPG, TIFF, BMP
Opciones*
EDS (Oxford, Bruker)
EBSD, STEM
NaviCAM, Plataforma refrigerada
LV(20Pa), VP(10 / 20 / 30Pa)
NanofiberScanner
Bomba de desplazamiento
Módulo de protección contra aire
El CP-8000+ es una herramienta avanzada de preparación de muestras que graba una sección transversal de una muestra utilizando un haz de iones de argón. Este proceso evita la deformación física y el daño estructural, sin requerir procesos químicos complicados. Además, el sistema simplifica el análisis transversal de la muestra al procesar áreas grandes, desde decenas de micrómetros hasta varios milímetros.
Gas utilizado
Gas Ar (Argón)
Velocidad de fresado
700 μm/h (Si a 8kV)
Voltaje de aceleración
De 2 a 8 kV
Diámetro del haz
Aproximadamente 500 μm
Presión de trabajo
4,3 x 10^-5 torr
Alineación del haz
Alineación precisa del haz utilizando microscopio digital
Tamaño máximo de muestra
20(An) x 10(Prof) x 9(Al) mm
Rango de movimiento de la muestra
(Z: ±2mm, Y: ±2mm)
Rotación
-35° ~ +35°
Etapa para fresado plano
Rango de inclinación: 40° a 80°
Velocidad de rotación: 6 rpm/min
Tamaño de muestra: Ø 30 x 11,4mm
Pantalla
Pantalla táctil (1024 x 600, pantalla de 7 pulgadas)
Cámara de la cámara de la cámara
Aumento: x5, x10, x20, x40
Control de brillo en 4 pasos
Modo de observación con haz de iones
Cámara digital para alineación de muestras
Aumento: x5, x10, x20, x40
Tipo USB
Sistema de evacuación
Bomba turbo-molecular (66L/s) + Bomba de diafragma
Dimensiones
610(An) x 472(Prof) x 415(Al) mm
El metalizador SPT-20 es un dispositivo utilizado para recubrir materiales conductores (Au, Pt, Pd, Pt-Pd) sobre las superficies de las muestras mediante el principio de pulverización catódica de corriente continua (DC). También se utilizan muestras no conductoras para la observación bajo microscopios electrónicos, y se emplean para proteger las superficies de la muestra del haz de electrones inyectado y para ayudar al flujo de electrones.
Dimensiones y peso
420(An) × 220(L) × 230(Al) mm, 10 kg
Consumo de energía
AC 110 o 220V, 50/60 Hz, 300W
Tamaño de la cámara
Ø100 mm
Tamaño del objetivo
50 mm
Disco de Au, Pt, Pt-Pd fácilmente reemplazable
Voltaje máximo del ion
3 kV
Corriente de iones
0 ~ 9 mA
Tiempo de recubrimiento
10 ~ 300 seg
Bomba
Bomba rotativa (50L), 14 kg
El detector opcional STEM es una herramienta de análisis utilizada para generar imágenes de transmisión, sobre la base de un «Microscopio Electrónico de Barrido» (SEM) de sobremesa, mediante la detección de electrones que han sido proyectados sobre una muestra de manera bidimensional a través de haces de electrones generados por un haz de electrones. Esta herramienta permite a los investigadores en el campo de las ‘ciencias de la vida’ observar la información de las células bajo la superficie y su estructura, y en la ciencia de materiales, las nanoestructuras.
El sistema QUANTAX ED-XS proporciona capacidades avanzadas de EBSD y EDS en una solución compacta, mejorando el rendimiento analítico de nuestros SEM de sobremesa. Esta integración permite un análisis de materiales completo con una precisión y eficiencia inigualables, llevando potentes herramientas analíticas a un formato compacto.
Vea sus beneficios:
Distribución semi-automática del tamaño y forma de los granos.
Análisis cuantitativo de microestructuras mediante sub-muestreo.
Fracción de área/volumen de granos deformados frente a granos recristalizados.
Análisis de los límites de grano.
Identificación de fases y análisis de distribución.
Correlación de resultados químicos y cristalográficos.
Distribución de orientación: análisis de textura cristalográfica.
Detector EBSD: hardware e-Flash XS
Resolución nativa de la imagen:
720 x 540 píxeles
Modos de binning soportados:
2×2, 3×3, 4×4, 5×5, 6×6
Velocidad:
525 cuadros por segundo (fps) en todos los modos de binning
Cabezal del detector removible por el usuario
Mecanismo de deslizamiento hacia dentro y hacia fuera
Pantalla de fósforo reemplazable por el usuario
La etapa de enfriamiento es un dispositivo que ayuda a congelar rápidamente muestras líquidas o muestras con humedad para mantener su estado actual, permitiendo que se filmen de manera efectiva. Además, puede ser calentada, lo que permite observar en tiempo real las variaciones de las muestras en función de los cambios de temperatura.
La etapa de enfriamiento es un dispositivo que congela rápidamente y registra las muestras.
Dado que el microscopio electrónico no puede analizar un estado líquido, se puede ver eficazmente congelando la muestra líquida para medirlo en estado sólido.
Es posible medir el cambio de las muestras en función del cambio de temperatura mediante calefacción.
Si se usa con el detector BSE, los usuarios pueden obtener imágenes más eficientes.
Temperatura de la plataforma refrigerada:
De -25˚C a 50˚C
Resolución de temperatura:
± 0,1˚C
Precisión de temperatura:
± 1˚C
Tolerancia de temperatura del agua (enfriador):
De +5˚C a +8˚C
Tamaño del soporte para muestras:
Ø 18cm
Electrones retrodispersados (BSE) son electrones de alta energía generados como resultado de interacciones elásticas entre el haz primario de electrones y la muestra.
Detector BSE tipo semiconductor de 4 canales
Imagen clara sobre el borde del metal
Imagen más estereoscópica que el detector SE
Opcional para las series EM y CX
Control fácil del software mediante tarjeta digital
Imagen clara de muestras no recubiertas con el modo LV
Resolución 10nm
Canales 4 canales tipo sólido
Imagen Funciones de topografía y composición, Pantalla dual
AZtecOne con XploreCompact 30 & 65
El sistema AZtecOne combina el software fácil de usar pero potente AZtecOne o AztecLive con la estabilidad y precisión probadas de los detectores EDS XploreCompact de 30mm² y 65mm². Incluye todas las herramientas necesarias para ayudarte a analizar y caracterizar tu muestra con confianza y facilidad. La tecnología única Tru-Q asegura que los elementos sean identificados y cuantificados automáticamente con nuevos niveles de precisión.
La introducción del detector Xplore 65, con su tamaño de sensor de 65mm², permite recoger datos más de dos veces más rápido sin pérdida de rendimiento, desbloqueando mayores capacidades de análisis EDS.
Espectrómetro de rayos X dispersivos de energía QUANTAX Compact
QUANTAX Compact es un sistema EDS modular para análisis microcualitativos y cuantitativos en la industria, investigación y educación. El software de cuantificación sin estándar del sistema permite la evaluación manual, automática o interactiva de espectros y proporciona resultados fiables para muestras con superficies pulidas o rugosas, capas delgadas y partículas.
Rango de detección: B(5) a Cf(98)
Resolución energética: Mn K <129eV a 50 kcps
Tasa máxima de conteo de entrada: 1.000 kcps
Tasa cuantitativa de conteo: 100 kcps
Controlador: X1 (1 detector, imágenes)
Rango de detección: B(5) a Cf(98)
Resolución energética: Mn K <129eV
Tasa de conteo de entrada: Más de 150 kcps
Tasa de conteo de salida: Más de 60 kcps
